1. 超聲(sheng)波測(ce)厚(hou)儀(yi)操儀器(qi)準備與(yu)參(can)數(shu)設置
探(tan)頭選(xuan)擇(ze)：根(gen)據被(bei)測(ce)材料(liao)類型(xing)(如(ru)金(jin)屬(shu)、塑料(liao)、復合(he)材(cai)料)和(he)表面狀(zhuang)況(粗糙度、曲(qu)率(lv))選(xuan)擇(ze)合(he)適的探(tan)頭。例(li)如，小曲(qu)率半徑管道需使(shi)用6mm小管(guan)徑專用探(tan)頭，鑄件(jian)需(xu)選(xuan)用2.5MHz低頻探(tan)頭。
聲(sheng)速預設：輸入被(bei)測(ce)材料(liao)的縱(zong)波聲(sheng)速(如鋼5920m/s、鋁(lv)6305m/s)。若材(cai)料(liao)未(wei)知，可通(tong)過標(biao)準試塊(kuai)反測(ce)聲(sheng)速。
環境適應(ying)：高(gao)溫(wen)環境(≤300℃)需使(shi)用耐(nai)溫(wen)耦合(he)劑及(ji)高(gao)溫(wen)探(tan)頭，避(bi)免普(pu)通(tong)探(tan)頭損(sun)壞。
2. 儀(yi)器(qi)校準(兩(liang)點校準法)
試塊(kuai)選(xuan)擇(ze)：選(xuan)用與(yu)被(bei)測(ce)材料(liao)材質(zhi)、聲(sheng)速及曲率壹致(zhi)的兩(liang)個(ge)標(biao)準試塊(kuai)，厚(hou)度分(fen)別(bie)接(jie)近測(ce)量(liang)範圍下(xia)限(如(ru)5mm)和(he)上限(如(ru)50mm)。
校(xiao)準步驟：
關閉最小值(zhi)捕捉功(gong)能，刪除舊校準數據。
塗抹耦合劑於試塊(kuai)表面，將(jiang)探(tan)頭垂(chui)直(zhi)貼(tie)合(he)試塊(kuai)。
測(ce)量(liang)薄試(shi)塊(kuai)，調整(zheng)儀(yi)器(qi)顯(xian)示(shi)值(zhi)至(zhi)標準值；重復測(ce)量(liang)厚(hou)試(shi)塊(kuai)，修正(zheng)高(gao)端誤(wu)差。
完成(cheng)校(xiao)準後，保存(cun)數(shu)據並(bing)進(jin)入測(ce)量(liang)模式。
關鍵(jian)點：校準前(qian)需(xu)確保探(tan)頭接(jie)觸(chu)面(mian)平滑，磨損探(tan)頭需(xu)用500#砂紙打磨或(huo)更(geng)換(huan)。
3. 被(bei)測(ce)工件(jian)表面處(chu)理
清潔表面：去(qu)除油汙、銹蝕(shi)、氧(yang)化層(ceng)及(ji)油(you)漆，露(lu)出(chu)金屬(shu)光澤。粗糙表面可(ke)通(tong)過砂(sha)紙(zhi)打磨降低(di)粗糙度。
耦(ou)合(he)劑(ji)選(xuan)擇(ze)：
光滑表面：低(di)粘(zhan)度耦(ou)合(he)劑(ji)(如水(shui)、甘(gan)油(you))。
粗糙/垂直(zhi)表面：高(gao)粘(zhan)度耦(ou)合(he)劑(ji)(如黃(huang)油、水(shui)玻(bo)璃)。
高(gao)溫(wen)工件(jian)：耐溫(wen)耦合(he)劑塗於探(tan)頭。
耦(ou)合要求：耦合(he)劑需覆(fu)蓋探(tan)頭接(jie)觸(chu)面(mian)，耦合(he)標誌(zhi)穩(wen)定(ding)顯(xian)示(shi)表明接(jie)觸(chu)良好；若(ruo)標(biao)誌閃爍，需(xu)重新(xin)塗抹。
4. 測(ce)量(liang)操作(zuo)與(yu)技(ji)巧(qiao)
單點測(ce)量(liang)法：在(zai)壹點處用(yong)探(tan)頭測(ce)量(liang)兩(liang)次(ci)，探(tan)頭分(fen)割面互(hu)成(cheng)90°，取較(jiao)小值(zhi)。
30mm多(duo)點測(ce)量(liang)法：測(ce)量(liang)值不穩(wen)定(ding)時，以(yi)測(ce)定(ding)點為(wei)中心(xin)，在直(zhi)徑30mm圓內(nei)多(duo)次(ci)測(ce)量(liang)，取最小值(zhi)。
連(lian)續(xu)測(ce)量(liang)法：沿(yan)指定(ding)路線(xian)連(lian)續(xu)測(ce)量(liang)，間隔(ge)≤5mm，記(ji)錄(lu)最小值(zhi)。
網格(ge)測(ce)量(liang)法：在(zai)指定(ding)區域(yu)劃上網(wang)格(ge)，按點測(ce)厚(hou)並(bing)記(ji)錄(lu)，適用(yong)於高(gao)壓(ya)設備腐蝕(shi)監(jian)測(ce)。
管材(cai)測(ce)量(liang)技(ji)巧(qiao)：
大(da)管徑：垂直(zhi)軸線(xian)方(fang)向測(ce)量(liang)。
小管(guan)徑：沿軸線(xian)及(ji)垂直(zhi)軸線(xian)方(fang)向測(ce)量(liang)，取最小值(zhi)。
5. 超聲(sheng)波測(ce)厚(hou)儀(yi)數據處(chu)理(li)與(yu)誤差(cha)預防(fang)
數據記(ji)錄(lu)：記(ji)錄(lu)測(ce)量(liang)點位置、厚(hou)度值(zhi)及(ji)環境條件(溫(wen)度、濕度)。
誤(wu)差(cha)分(fen)析：
表面粗糙度：粗糙表面導(dao)致耦(ou)合(he)差(cha)，需打磨或(huo)使(shi)用高(gao)粘(zhan)度耦(ou)合(he)劑(ji)。
曲率半徑：小曲(qu)率管(guan)材使(shi)用專(zhuan)用(yong)探(tan)頭，避(bi)免點接(jie)觸(chu)。
材(cai)料內(nei)部(bu)缺陷：如(ru)夾(jia)雜(za)、夾(jia)層(ceng)，顯(xian)示(shi)值(zhi)約為(wei)公(gong)稱(cheng)厚(hou)度70%，需(xu)用(yong)探(tan)傷儀(yi)進壹步(bu)檢測(ce)。
溫(wen)度影(ying)響：熱(re)態材料(liao)每(mei)升高(gao)100℃，聲(sheng)速下降1%，需(xu)調(tiao)整(zheng)聲(sheng)速或使(shi)用高(gao)溫(wen)探(tan)頭。
層(ceng)疊(die)材(cai)料(liao)：僅測(ce)量(liang)與(yu)探(tan)頭接(jie)觸(chu)的層(ceng)厚(hou)度，無(wu)法(fa)穿透(tou)未(wei)耦合空間。
維護建(jian)議：
避(bi)免強(qiang)電(dian)磁幹擾(rao)，探(tan)頭線(xian)防彎折、防(fang)化學腐(fu)蝕(shi)。
使(shi)用後(hou)清潔探(tan)頭(酒(jiu)精(jing)擦拭(shi))，長期(qi)不用時取出(chu)電池(chi)。
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