磁(ci)粉探傷(shang)儀(yi)利用線圈直(zhi)接纏繞於(yu)探頭(tou)上(shang)，產生感應磁(ci)場(chang)磁(ci)化(hua)工(gong)件，采用(yong)外加(jia)磁(ci)場(chang)磁(ci)化(hua)法(fa)，使儀(yi)器(qi)具有(you)體積小、重量輕(qing)等優(you)點(dian)，配以標(biao)準鋁(lv)合(he)金(jin)箱(xiang)，攜帶(dai)方便(bian)，該(gai)儀(yi)器(qi)可接(jie)A、D、O三種探頭(tou)。磁(ci)粉探傷(shang)儀(yi)廠家(jia)下(xia)面(mian)介(jie)紹(shao)幾(ji)種(zhong)探傷(shang)方(fang)法的(de)選擇(ze)：
1）濕(shi)法
磁(ci)懸液(ye)應采(cai)用軟(ruan)管澆(jiao)淋或(huo)浸(jin)漬(zi)法施加(jia)於(yu)試件，使(shi)整(zheng)個被(bei)檢(jian)表(biao)面(mian)被覆蓋，磁(ci)化(hua)電流(liu)應保(bao)持1/5~1/2秒(miao)，此(ci)後切斷(duan)磁(ci)化(hua)電流(liu)，采用(yong)軟(ruan)管澆(jiao)淋或(huo)浸(jin)漬(zi)法施加(jia)磁(ci)懸液(ye)。
2）幹法(fa)
磁(ci)粉應直(zhi)接噴(pen)或(huo)撒(sa)在被(bei)檢(jian)區域，並(bing)除(chu)去(qu)過(guo)量(liang)的(de)磁(ci)粉，輕(qing)輕(qing)地震動試件，使(shi)其(qi)獲得(de)較(jiao)為(wei)均勻(yun)的(de)磁(ci)粉分(fen)布(bu)。應註(zhu)意避(bi)免(mian)使用(yong)過(guo)量(liang)的(de)磁(ci)粉，不(bu)然(ran)會(hui)影響缺(que)陷的(de)有(you)效(xiao)顯(xian)示。
3）檢(jian)測近表(biao)面(mian)缺(que)陷
檢(jian)測近表(biao)面(mian)缺(que)陷時，應采(cai)用濕(shi)粉連續(xu)法(fa)，因為非(fei)金(jin)屬(shu)夾雜物(wu)引起的(de)漏(lou)磁(ci)通值(zhi)最(zui)小(xiao)，檢(jian)測大型(xing)鑄(zhu)件(jian)或(huo)焊接件(jian)中(zhong)近表(biao)面(mian)缺(que)陷時，可采(cai)用(yong)幹(gan)粉連續(xu)法(fa)。
4）周向(xiang)磁(ci)化(hua)
在檢(jian)測任何(he)圓(yuan)筒形(xing)試件的(de)內表(biao)面(mian)缺(que)陷時，都應采(cai)用中(zhong)心(xin)導(dao)體法；試件與中(zhong)心(xin)導(dao)體之(zhi)間應有(you)間隙，避(bi)免(mian)彼(bi)此直(zhi)接(jie)接(jie)觸。當電流(liu)直接(jie)通過(guo)試件時(shi)，應註(zhu)意防(fang)止(zhi)在電接觸(chu)面(mian)處(chu)燒(shao)傷(shang)，所(suo)有接(jie)觸面(mian)都應是(shi)清潔的(de)。
5）縱(zong)向(xiang)磁(ci)化(hua)
用(yong)螺線圈磁(ci)化(hua)試件時(shi)，為(wei)了得(de)到(dao)充(chong)分磁(ci)化(hua)，試件應放在螺線圈內的(de)適(shi)當位置(zhi)上(shang)。螺線圈的(de)尺寸(cun)應足(zu)以容(rong)納試件。
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