測(ce)厚儀在(zai)工業生(sheng)產(chan)中得到(dao)廣泛(fan)的應用，其主要(yao)原(yuan)理根(gen)據超(chao)聲(sheng)波(bo)脈(mai)沖(chong)反(fan)射(she)來對物(wu)體(ti)進(jin)行厚度測(ce)量(liang) 。測(ce)厚儀的種類有(you)：紙(zhi)張(zhang)測厚儀、薄膜測厚儀、塗(tu)層測厚儀、 X射線測厚儀、在(zai)線測厚儀、超(chao)聲(sheng)測厚儀、壓力測厚儀、白光幹涉測(ce)厚儀、電解(jie)式(shi)測(ce)厚儀、機械接觸(chu)式(shi)測(ce)厚儀等(deng)。
壹般(ban)我(wo)們(men)比較常用的測(ce)厚儀類型包括(kuo)：塗(tu)層測厚儀、薄膜測厚儀、紙張測厚儀、超(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀、X射線測厚儀等(deng)。那(na)麽它(ta)們(men)都(dou)應用在(zai)那(na)些(xie)領(ling)域(yu)呢？下面(mian)就來介紹壹(yi)下。
1.X射(she)線測厚儀利(li)用X射線穿透被(bei)測材(cai)料時(shi)，X射線的強(qiang)度的(de)變(bian)化(hua)與(yu)材(cai)料(liao)的厚度相關(guan)的特(te)性(xing)，從而測(ce)定材料(liao)的(de)厚度，是壹種(zhong)非(fei)接(jie)觸式的(de)動(dong)態(tai)計(ji)量(liang)儀器。它(ta)以PLC和(he)工業計算(suan)機為核心，采(cai)集計算(suan)數(shu)據並輸出(chu)目(mu)標(biao)偏(pian)差(cha)值給軋(zha)機(ji)厚度控制系統(tong)，達(da)到要(yao)求(qiu)的(de)軋(zha)制厚度。主要(yao)應(ying)用行業：有色(se)金(jin)屬的(de)板(ban)帶箔(bo)加工、冶金(jin)行業的板(ban)帶加工。
2.超(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀：超(chao)聲(sheng)波(bo)測(ce)厚儀是根(gen)據超(chao)聲(sheng)波(bo)脈(mai)沖(chong)反(fan)射(she)原理來進(jin)行厚度測(ce)量(liang)的(de)，當(dang)探頭發射(she)的超(chao)聲(sheng)波(bo)脈(mai)沖(chong)通(tong)過被測(ce)物(wu)體(ti)到(dao)達(da)材(cai)料分(fen)界(jie)面時(shi)，脈(mai)沖(chong)被(bei)反(fan)射回探頭，通過精(jing)確(que)測量(liang)超(chao)聲(sheng)波(bo)在(zai)材(cai)料(liao)中傳播的時(shi)間來確定被測(ce)材(cai)料(liao)的厚度。凡(fan)能(neng)使(shi)超(chao)聲(sheng)波(bo)以(yi)壹(yi)恒(heng)定速度在(zai)其內(nei)部傳播的各種材(cai)料均可采(cai)用此原(yuan)理測量(liang)。
3.塗(tu)層測厚儀：用於測量(liang)鐵(tie)及(ji)非(fei)鐵(tie)金(jin)屬基(ji)體(ti)上(shang)塗(tu)層的厚度。
4.薄膜測厚儀：用於測定(ding)薄膜、薄片等(deng)材料(liao)的厚度，測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)寬(kuan)、測量(liang)精(jing)度高，具有(you)數(shu)據輸(shu)出(chu)、任(ren)意(yi)位(wei)置置零、公(gong)英制轉換、自動(dong)斷(duan)電等(deng)特(te)點(dian)。
5.紙張測厚儀：適(shi)用於4mm以下的(de)各種薄膜、紙張、紙(zhi)板(ban)以(yi)及(ji)其他片狀(zhuang)材(cai)料厚度的(de)測(ce)量(liang)。
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